AEDT Circuit에서 Touchstone 파일을 이용한 Eye Diagram 해석

이번 포스팅에서는 AEDT Circuit 환경에서 Touchstone 파일(.s2p / .s4p)을 채널 모델로 불러와 Eye Diagram을 생성하는 과정을 소개합니다.

실측 또는 EM 해석을 통해 추출한 S-parameter 데이터를 그대로 활용하기 때문에, 3D EM 해석을 별도로 수행하지 않고도 실제에 가까운 채널 특성을 반영한 신호 품질 평가가 가능합니다.

Eye Source / Eye Probe 추가

Component Library에서 아래 두 가지 컴포넌트를 배치합니다.

• Independent Sources → EYESOURCE_DIFF : Differential Eye Source. 비트 패턴과 신호 조건을 정의합니다.
• Probes → EYEPROBE_DIFF : Differential Eye Probe. 출력단에 배치하여 Eye Diagram 데이터를 수집합니다.

회로 구성

Touchstone, Eye Source, Eye Probe를 아래 그림과 같이 연결합니다.

출력단 Termination은 채널 특성 임피던스에 맞게 구성합니다.  차동 신호를 다루는 경우 포트 순서(P1+, P1−, P2+, P2−)가 설계 의도와 일치하는지 확인이 필요합니다.

Eye Source Property 설정

Eye Source를 더블클릭하여 Property 창을 열고 아래 항목들을 설정합니다.

Unit Interval 값은 이후 Eye Diagram 출력 시에도 동일하게 입력해야 하므로 메모해 두는 것이 좋습니다.

Eye Probe Property 설정

Eye Probe의 Property 창을 열어 source_name 항목에서 앞서 배치한 Eye Source의 ID를 선택합니다.

이 설정이 정확해야 Eye Diagram 출력 시 올바른 Unit Interval 기준으로 파형이 정렬됩니다.

Transient 해석 설정 및 실행

Analysis 우클릭 → Add Nexxim Solution Setup… → Transient Analysis를 선택합니다.

Stop Time은 200 UI 이상으로 설정하여 충분한 비트가 누적되도록 합니다. Step Size는 Unit Interval의 1/10 이하로 설정하는 것이 권장되며, 너무 작게 설정하면 데이터 과다로 인한 오류가 발생할 수 있으므로 적절한 균형이 필요합니다.

설정 완료 후 해당 셋업을 우클릭 → Analyze를 실행합니다.

Eye Diagram 결과 확인

해석 완료 후 Results 우클릭 → Create Eye Diagram Report → Rectangular Plot을 선택합니다.

• Category : Voltage 선택
• Quantity : V(AEYEPROBE(required).out) 선택
• Unit Interval : Eye Source에서 설정한 값과 동일하게 입력

필요에 따라 Mask를 추가하면 시간·전압 기준으로 Pass/Fail 판정도 가능합니다.

Touchstone 파일을 채널 모델로 활용하면 실측 데이터 또는 EM 해석 결과를 Circuit 시뮬레이션에 직접 반영할 수 있어, 보다 현실적인 신호 무결성 평가가 가능합니다.